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【產(chǎn)品概述】PicoFemto NI-100掃描電鏡納米力學樣品臺是澤攸科技推出的一款專注于材料變形行為和微觀失效機制研究的科研設(shè)備。該系統(tǒng)作為一款集成化的解決方案，能夠精確量化微納米級材料的力學特性，并通過與掃描電鏡(SEM)結(jié)合使用，實現(xiàn)對材料在不同應(yīng)力狀態(tài)下的原位觀測。這使得研究人員能夠在納米尺度上觀察到材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的變化，為深入理解材料的本質(zhì)提供了有力支持。
產(chǎn)品型號：NI-100 更新時間：2025-05-08訪 問 量：451廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家產(chǎn)品詳情
SEM納米力測量系統(tǒng)
產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品特色
▲ 易用性強
▲ 兼容擴展性強
▲ 加熱，光學等多種模塊可選
▲ 閉環(huán)高精度、大量程力學測量
▲ 閉環(huán)納米尺度微動臺控制，位移更加精確
▲ 壓痕、劃痕、壓縮等多種模式可選
▲ 超高穩(wěn)定性，輕松獲得高質(zhì)量原位視頻
技術(shù)參數(shù)
功能：壓痕，壓縮，拉伸
載荷量程：100mN
力傳感分辨率：10uN
響應(yīng)時間：50ms
微調(diào)臺X/Y；模式：閉環(huán)控制 行程：100(±20)um 精度：20nm
粗調(diào)臺X/Y/Z；模式：開環(huán)控制 行程：XY軸±10mm、Z軸行程10mm 最小步長：≤1nm
標準納米力臺尺寸：130*65*55mm
裸臺重量：約300g(壓痕)
樣品尺寸：≤30*30mm
選配模塊：加熱(最高400℃)、加電
應(yīng)用案例
納米力臺微球壓碎過程
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